Kategorie
Konto
Zaloguj się / zarejestruj
Koszyk zakupów
 
 

Grubościomierz do powłok cyfrowy TE-N Zakres pomiaru 100/1250 µm


Liczba:  szt.  
Informacje o produktach
Grubościomierz do powłok cyfrowy TE-N Zakres pomiaru 100/1250 µm
Grubościomierz do powłok cyfrowy TE-N Zakres pomiaru 100/1250 µm
Grubościomierz do powłok cyfrowy TE-N Zakres pomiaru 100/1250 µm
Nr artykułu:
     163PL-4691205
Producent:
     Kern & Sohn
Nr producenta:
     TE 1250-0.
EAN/GTIN:
     brak danych
Słowa kluczowe:
Grubociomierze,do pomiaru grubo
Grubościomierz do powłok, cyfrowy, TE-N
Do powłok na metalach niemagnetycznych. Funkcja Offset-Accur umożliwia precyzyjną regulację przyrządu w lokalnie mierzonym zakresie za pomocą dwupunktowej kalibracji. Skutkuje to wyższą dokładnością wynoszącą ok. 1% wartości mierzonej.






-Możliwość wyboru jednostek pomiarowych: µm, cale (mil)
-Automatyczne wyłączanie zasilania
-Zasilanie bateryjne
-Interfejs danych RS-232


Zakres dostawy:
Grubościomierz do powłok, czujnik zewnętrzny, płyta wzorcowa, folie kalibracyjne, walizka transportowa
Dokładność:
Standardowa: 3% zmierzonej wartości lub ± 2,5 µm
Offset-Accur: 1% zmierzonej wartości lub ± 1 µm
Minimalna grubość próbki: 0,3 mm

Zakres pomiaru 100/1250 µm
Czytelność 0,1/1 µm
Szerokość 131 mm
Głębokość 65 mm
Wysokość 28 mm
Wymiary (szer. x gł. x wys.) 131 x 65 x 28 mm
Zasilanie 4 × 1,5 V AAA
Przegląd warunków1
Termin dostawy
Stan magazynu
Cena
od PLN 1 649,14*
  
Cena obowiązuje od 500 szt.
Wybierz osobiście warunki zakupu
Poleć artykułDodaj do listy zakupów
Ceny ruchome
Liczba zamawianego produktu
Netto
Brutto
Jednostka
1 szt.
PLN 1 809,85*
PLN 2 226,12
za szt.
od 2 szt.
PLN 1 795,28*
PLN 2 208,19
za szt.
od 5 szt.
PLN 1 782,98*
PLN 2 193,07
za szt.
od 10 szt.
PLN 1 765,37*
PLN 2 171,41
za szt.
od 500 szt.
PLN 1 649,14*
PLN 2 028,44
za szt.
* Ceny oznaczone gwiazdką są cenami netto i nie zawierają obowiązującej stawki VAT.
Nasza oferta skierowana jest wyłącznie do przedsiębiorstw, osób prowadzących działalność gospodarczą i wykonujących wolne zawody.